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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84517. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84517
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84518. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84518
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84519. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84519
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84520. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84520
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84521. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84521
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)厚い所　ボイド.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84522. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84522
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-6赤0-3（100）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84523. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84523
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84524. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84524
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84525. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84525
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)別のgrain　dislocation　grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84526. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84526
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84527. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84527
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84528. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84528
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84529. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84529
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84530. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84530
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84531. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84531
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84532. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84532
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84533. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84533
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84534. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84534
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84535. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84535
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84536. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 5.3K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84536
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)α　-17赤3-6（60）同grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84537. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84537
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84538. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84538
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84539. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84539
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84540. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84540
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84541. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84541
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84542. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84542
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84543. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84543
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84544. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84544
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β-5.5赤3-6（240）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84545. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84545
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84546. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84546
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84547. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84547
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84548. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84548
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84549. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84549
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84550. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84550
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84551. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α-2.5赤18-24（120）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84552. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B.

(備考)ボツ.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84553. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84554. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84555. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84556. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84557. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84558. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84559. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋11.5赤12-15（240）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84560. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84561. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84562. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84563. SUS, JMTRcycle-II, B, DF., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84563
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下17.5{＋}赤3（200）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84564. SUS, JMTRcycle-II, B, DF., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84564
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84565. SUS, JMTRcycle-II, B, DF., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84565
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84566. SUS, JMTRcycle-II, B, DF., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84566
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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