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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85159. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85159
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85160. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85160
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85161. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85161
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85162. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85162
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋18赤6（125）②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85163. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85163
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85164. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85164
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85165. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85165
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85166. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85166
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋9　1（60）②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85167. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85167
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85168. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85168
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85169. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85169
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85170. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85170
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-22黒24（40）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85171. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85171
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85172. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85172
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85173. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85173
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85174. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85174
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-30.5黒18.1（320）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85175. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85175
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85176. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85176
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85177. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85177
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85178. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85178
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85179. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85179
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85180. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85180
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85181. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85181
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85182. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85182
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85183. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85183
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85814. FE-0.1Mｎ, BF, 25K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85814
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「7/26」.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85815. FE-0.1Mｎ, BF, 50K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85815
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85816. FE-0.1Mｎ, BF, 50K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85816
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85817. FE-0.1Mｎ, BF, 80K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85817
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85818. FE-0.1Mｎ, BF, 25K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85818
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85819. FE-0.1Mｎ, BF, 50K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85819
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85820. FE-0.1Mｎ, BF, 50K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85820
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85821. FE-0.1Mｎ, BF, 50K., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85821
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85822. FE-0.1Mｎ, ED., [1992年]7/26.

 アイテム
資料番号: O-85822
範囲と内容

(試料)FE-0.1Mｎ. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86011. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86011
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (EM/D3)D3. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86012. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86012
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86013. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86013
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86014. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86014
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86015. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86015
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86016. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86016
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86017. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86017
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86018. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86018
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86019. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA, BF., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86019
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイドコントラスト.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86020. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA, BF., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86020
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイドコントラスト.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86021. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86021
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86022. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86022
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86023. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA, ED., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86023
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86024. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86024
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86025. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86025
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86026. Fe-0.001B-1, BY00, FFTF-MOTA., [1992年7月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-86026
範囲と内容

(試料)Fe-0.001B-1. (試料番号)BY00. (照射条件)FFTF-MOTA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年7月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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