電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86377. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, ED., 1992. 10. 23.

アイテム

資料番号: O-86377

範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 10. 23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86378. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86378

範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86379. JLF-5, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86379

範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86380. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86380

範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)転位.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86381. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86381

範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86382. JLF-5, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86382

範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86383. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86383

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　-8.5ステレオ. 日付元記載「90. 11. 14」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86384. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86384

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)0ステレオ.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86385. JLF-6, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86385

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86386. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86386

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86387. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86387

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86388. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86388

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86389. JLF-6, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86389

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86390. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86390

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86391. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86391

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86392. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86392

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86393. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86393

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86394. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86394

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86395. JLF-6, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86395

範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86396. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86396

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　0ステレオ. 日付元記載「90. 11. 14」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86397. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86397

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　-7ステレオ.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86398. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86398

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86399. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86399

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86400. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86400

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86401. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86401

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86402. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86402

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86403. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86403

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86404. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86404

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86405. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86405

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86406. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86406

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86407. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 14.

アイテム

資料番号: O-86407

範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86408. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86408

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　-5ステレオ. 日付元記載「90. 11. 15」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86409. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86409

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　＋5ステレオ.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86410. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86410

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86411. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86411

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86412. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86412

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86413. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86413

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86414. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86414

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86415. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86415

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86416. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 50K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86416

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86417. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86417

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86418. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 50K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86418

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86419. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 100K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86419

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86420. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 100K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86420

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86421. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 100K., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86421

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86422. JLF-2, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 15.

アイテム

資料番号: O-86422

範囲と内容

(試料)JLF-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86423. JLF-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 16.

アイテム

資料番号: O-86423

範囲と内容

(試料)JLF-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)粒子のところが光にエッチングされている. 日付元記載「90. 11. 16」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86424. JLF-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 16.

アイテム

資料番号: O-86424

範囲と内容

(試料)JLF-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [19]90. 11. 16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86425. JLF-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 16.

アイテム

資料番号: O-86425

範囲と内容

(試料)JLF-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86426. JLF-3, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

アイテム

資料番号: O-86426

範囲と内容

(試料)JLF-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

もっと詳しく '電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series'

追加の絞り込み:

24989 コレクションおよび/またはレコード表示: