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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86533. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年]11/20.

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資料番号: O-86533
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)220.

(備考)α -3.5黒3-6(160).

日付: [1990年]11/20.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86552. Ni-16Cu, JMTR uncontrolled, 414℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

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資料番号: O-86552
範囲と内容

(試料)Ni-16Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)414℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C BとCのboundaryでC側にはloopsがあるがB側には少ない.

日付: [1990年11月20日.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86553. Ni-17Cu, JMTR uncontrolled, 415℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

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資料番号: O-86553
範囲と内容

(試料)Ni-17Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)415℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C AとCの間のC側のloopsは通常の厚さにともなうループと思われる.

日付: [1990年11月20日.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86564. Ni-28Cu, JMTR uncontrolled, 426℃, BF, 42K., [1990年11月20日.]

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資料番号: O-86564
範囲と内容

(試料)Ni-28Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)426℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)ループがGBに向かって曲がっている.

日付: [1990年11月20日.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86565. Ni-29Cu, JMTR uncontrolled, 427℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

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資料番号: O-86565
範囲と内容

(試料)Ni-29Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)427℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1990年11月20日.]

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87903. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., 1991. 2. 4.

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資料番号: O-87903
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)日付元記載「1991. 2. 4.」.

日付: 1991. 2. 4.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87904. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., 1991. 2. 4.

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資料番号: O-87904
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: 1991. 2. 4.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87907. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., 1991. 2. 4.

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資料番号: O-87907
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

日付: 1991. 2. 4.