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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12278. Au-, G030, RTNS-II, ED., [1985年9月12日.]

 アイテム
資料番号: O-12278
範囲と内容

(試料)Au-. (試料番号)G030. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年9月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12279. Au-, G030, RTNS-II, DF., [1985年9月12日.]

 アイテム
資料番号: O-12279
範囲と内容

(試料)Au-. (試料番号)G030. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)日付元記載「1985. 9. 12.」.

日付: [1985年9月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12280. DF, 100K., [1985年9月12日.]

 アイテム
資料番号: O-12280
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) 原記載O－12281を修正.

日付: [1985年9月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14852. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14852
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Cryotransfer実験　A. 日付元記載「1985. 11. 25.」.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14853. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14853
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14854. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14854
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　4.5ｍV.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14855. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14855
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14856. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14856
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14857. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14857
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)0.5A　-100℃　0′10″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14858. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14858
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1′30″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14859. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14859
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2′30″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14860. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14860
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4′15″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14861. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14861
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)5′45″ just focus.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14862. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14862
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6′10″ over 3 step.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14863. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14863
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6′25″ under 3 step.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14864. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14864
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14865. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14865
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14866. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14866
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14867. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14867
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)日付元記載「1985. 11. 25.　ここまで　 pm10:00」.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14868. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14868
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　-50℃ 0.55A. 日付元記載「1985. 11. 26.」.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14869. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14869
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14870. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14870
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14871. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14871
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14872. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14872
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14873. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14873
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14874. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14874
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14875. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14875
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14876. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14876
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14877. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14877
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14878. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14878
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14879. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14879
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14880. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14880
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14881. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14881
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14882. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14882
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14883. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14883
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14884. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14884
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14885. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14885
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14886. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14886
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14887. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14887
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14888. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14888
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14889. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., [1985年11月26日.]

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資料番号: O-14889
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14890. Ni, MK-31, Cryo-traansfer, DF, 52K., 1985. 11. 26日.

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資料番号: O-14890
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (照射条件)Cryo-traansfer. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A. 日付元記載「1985. 11. 26日」.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14891. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

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資料番号: O-14891
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14892. Ni, MK-31, SD., 1985. 11. 26日.

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資料番号: O-14892
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)SD.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14893. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14893
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14894. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14894
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14895. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14895
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A 3.26mV(～100℃）5min.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14896. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14896
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14897. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14897
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14898. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 26日.

 アイテム
資料番号: O-14898
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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