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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15099. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15100. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α　∔2.7、7（100）黒.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15101. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15101
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15102. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15102
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15103. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15103
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15104. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15104
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15105. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15105
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15106. Ni, A32, RTNS-II, 200℃., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15107. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β ＋8.2、16（140）黒.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15108. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15109. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 　β.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15110. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15111. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15112. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 　β.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15113. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15113
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15114. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15115. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A just.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15116. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A over 3 step.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15117. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A under 3 step.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15118. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15119. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B just.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15120. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B over 3.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15121. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B under 3.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15122. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15123. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)A.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15124. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15125. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15126. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15127. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15128. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15129. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15130. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15131. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15132. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)独立　slip　band.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15133. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)独立.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15134. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)独立.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15135. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15135
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)日付元記載「11/29」.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15136. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15136
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15137. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15137
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15138. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15138
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15139. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15139
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15140. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15140
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15141. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15141
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15142. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15142
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15143. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15143
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15144. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15144
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15145. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15145
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15146. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15146
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15147. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15147
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A α　-12.5　-15～18：260.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15148. SUS, J00α, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年]11/29.

 アイテム
資料番号: O-15148
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J00α. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α　.

日付: [1985年]11/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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