メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4289. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4289
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4290. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4290
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4291. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4291
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4292. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4292
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4293. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4293
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4294. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4294
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4295. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4295
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4296. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4296
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4297. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4297
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4298. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4298
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4299. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4299
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4300. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4300
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4301. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4301
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4302. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4302
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4303. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4303
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4304. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4304
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4305. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4305
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4507. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4508. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4509. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4510. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4511. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4512. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4513. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4514. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4515. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4516. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4517. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4518. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4519. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4520. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4521. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4522. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4523. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4524. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4524
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4525. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4525
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4526. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4526
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4527. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4527
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4528. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4528
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4529. Cu3Au, A45, RTNS-II　, 200℃, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4529
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)A45. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4530. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4531. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4532. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4533. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4534. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4535. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4536. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4537. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4538. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4539. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ