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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17260. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17260
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17261. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17261
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17262. Au, G508, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17262
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G508. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17263. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17263
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17264. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17264
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17265. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17265
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17266. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17266
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17267. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17267
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17268. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17268
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17269. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17269
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17270. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17270
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17271. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17271
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17272. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17272
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大＋3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17273. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17273
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大-3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17274. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17274
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17275. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17275
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17276. Ni, A084, RTNS-II, 60℃, M, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17276
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A084. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17277. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17277
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17278. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17278
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17279. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17279
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17280. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 52K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17280
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17281. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17281
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17282. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17282
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17283. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17283
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17284. Ni, A053, RTNS-II, 60℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17284
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A053. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fine大＋3.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17285. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17285
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

(備考)RT 2％　deformation.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17286. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17286
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17287. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17287
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17288. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17288
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17289. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17289
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17290. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17290
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17291. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17291
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17292. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17292
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17293. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17293
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17294. Au, G502, RTNS-II, 150℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17294
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17295. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17295
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)TW RT 2% deformation.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17296. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17296
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17297. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17297
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17298. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17298
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17299. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17299
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17300. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17300
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17301. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17301
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17302. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17302
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17303. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17303
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17304. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17304
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17305. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17305
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17306. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17306
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17307. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17307
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17308. Au, G510, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17308
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G510. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17310. Au, G511, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17310
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G511. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

(備考)TW　LiqN2　2％　deformation.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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