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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4540. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4541. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4542. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4543. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4544. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4545. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4546. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4547. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4548. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4549. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4550. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4551. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4552. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4553. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4553
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4554. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4554
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4555. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4555
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4556. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4556
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4557. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4557
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4558. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4558
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4559. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4559
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4560. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4560
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4561. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4561
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4562. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4562
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4563. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4563
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4564. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4564
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

(備考)失敗.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4726. ZnO, 非照射, BF, LM., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4726
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)LM.

(備考)像、EDの関連をZnO針結晶で検証4748まで. 日付元記載「60年1月10～12」.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4727. ZnO, 非照射, BF, 1., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4727
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)1.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4728. ZnO, 非照射, BF, 8., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4728
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4729. ZnO, 非照射, BF, 8., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4729
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4730. ZnO, 非照射, BF, 21., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4730
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4731. ZnO, 非照射, BF, 42., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4731
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4732. ZnO, 非照射, BF, 80., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4732
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4733. ZnO, 非照射, BF, 100., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4733
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4734. ZnO, 非照射, BF, 210., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4734
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)210.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4735. ZnO, 非照射, BF, 310., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4735
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)310.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4736. ZnO, 非照射, BF, 420., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4736
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)420.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4737. ZnO, 非照射, BF, 530., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

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資料番号: O-4737
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)530.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4738. ZnO, 非照射, BF, 160., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

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資料番号: O-4738
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)160.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4739. ZnO, 非照射, BF, 52., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

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資料番号: O-4739
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4740. ZnO, 非照射, ED, 90cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

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資料番号: O-4740
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)90cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4741. ZnO, 非照射, ED, 280cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4741
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)280cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4742. ZnO, 非照射, ED, 190cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4742
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)190cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4743. ZnO, 非照射, ED, 130cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4743
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)130cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4744. ZnO, 非照射, ED, 89cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4744
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)89cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4745. ZnO, 非照射, ED, 21cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4745
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)21cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4746. ZnO, 非照射, ED, 130cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4746
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)130cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4747. ZnO, 非照射, ED, 130cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4747
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)130cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4748. ZnO, 非照射, ED, 130cm., [昭和]60年1月10～12., [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4748
範囲と内容

(試料)ZnO. (照射条件)非照射. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)130cm.

日付: [昭和]60年1月10～12.; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4749. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, Weak, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4749
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)Weak. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4750. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4750
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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