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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

769 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5502. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5502
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5503. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5503
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5504. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5504
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5505. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5505
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5506. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5507. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5508. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5509. Ni, A-7, 300K, S, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5510. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5511. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5512. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5513. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5514. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5515. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5516., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5516
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5517. Ni, A-7, 300K, S, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5518. Ni, A-7, 300K, S., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5519. Ni, A-7, 300K, S, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5520. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5521. Ni, A-13, 300K, M, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5522. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5523. Ni, A-13, 300K, M, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5524. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5524
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5525. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5526. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5527. Ni, A-13, 300K, M, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5528. Ni, A-13, 300K, M, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5529. Ni, A-13, 300K, M, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5530. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5531. Ni, A-19, 300K, W, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5532. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5533. Ni, A-19, 300K, W, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5534. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5535. Ni, A-19, 300K, W, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5536. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5537. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5538. Ni, A-19, 300K, W, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5539. Ni, A-19, 300K, W, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5540. Ni, A-19, 300K, W, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5541. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

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資料番号: O-5541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5542. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5543. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5544. Ni, A-26, 300K, WW, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5545. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5546. Ni, A-26, 300K, WW, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5547. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5548. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5549. Ni, A-26, 300K, WW, BF., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5550. Ni, A-26, 300K, WW, BF., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5551. Ni, A-26, 300K, WW, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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