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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

769 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-1404. Au, B24, RTNS-II, RT, DF, 100K., 1984　5　9.

 アイテム
資料番号: O-1404
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)B24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1984　5　9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-1405. Au, B24, RTNS-II, RT, DF, 100K., 1984　5　9.

 アイテム
資料番号: O-1405
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)B24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1984　5　9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-1406. Au, B24, RTNS-II, RT, DF, 100K., 1984　5　9.

 アイテム
資料番号: O-1406
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)B24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1984　5　9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-1407. Au, B24, RTNS-II, RT, DF, 100K., 1984　5　9.

 アイテム
資料番号: O-1407
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)B24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1984　5　9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-1408. Au, B24, RTNS-II, RT, DF, 100K., 1984　5　9.

 アイテム
資料番号: O-1408
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)B24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1984　5　9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-1409. Au, B24, RTNS-II, RT, ED., 1984　5　9.

 アイテム
資料番号: O-1409
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)B24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1984　5　9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3867. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3867
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3868. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3868
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3869. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3869
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3870. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3870
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3871. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3871
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3872. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3872
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3873. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3873
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3874. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3874
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3875. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3875
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3876. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3876
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3877. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3877
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3878. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3878
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3879. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3879
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3880. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3880
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3881. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3881
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3882. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3882
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3883. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3883
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3884. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3884
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3885. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3885
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3886. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3886
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3887. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3887
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3888. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3888
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3889. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3889
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3890. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3890
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3891. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3891
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3892. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3892
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3893. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3893
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3894. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3894
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3895. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3895
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3896. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3896
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3897. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3897
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3898. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3898
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3899. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3899
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3900. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3900
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3901. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3901
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3902. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3902
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3903. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3903
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3904. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3904
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3905. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3905
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3906. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3906
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3907. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3907
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3908. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3908
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3909. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 42K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3909
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3910. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3910
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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