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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16434. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16435. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16436. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16437. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16438. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16439. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16440. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16441. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16442. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16443. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16444. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16445. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16446. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16447. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16448. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16449. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16450. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16451. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16452. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16453. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16454. Ni, A959, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A959. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料研磨不良.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16474. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16474
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16475. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16475
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16476. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16476
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16477. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16477
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16478. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16478
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16479. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16480. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16480
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16481. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16481
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16482. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16482
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16483. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16483
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16484. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16484
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16485. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16485
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16486. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16486
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16487. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16487
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16488. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16488
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16489. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16489
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16490. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16490
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16491. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16491
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16492. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16492
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16493. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16493
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16494. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16494
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16495. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16495
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16496. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16496
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16497. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16497
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16498. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16498
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16499. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16499
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16500. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16500
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16501. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16501
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16502. Ni, A807, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16502
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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