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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16653. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16653
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16654. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16654
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16655. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16655
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16656. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16656
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16657. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16657
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)dislocationそば.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16658. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16658
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16659. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16659
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16660. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16660
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16661. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16661
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16662. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16662
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16663. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16663
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16664. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16665. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16666. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16666
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16667. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16667
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20891. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20891
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20892. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20892
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20893. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20893
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20894. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20894
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20895. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20895
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20896. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20896
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20897. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20897
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20898. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20898
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20899. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20899
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20900. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20900
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20901. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20901
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)e-irr　for ～10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20902. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20902
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)e-irr　for 5min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20903. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20903
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)e-irr　for 6min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20904. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20904
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)e-irr　for 7min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20905. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20905
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)e-irr　for 8min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20906. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20906
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-irr　for 9min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20907. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20907
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-irr　for 10min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20909. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20909
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)e-irr　for 11min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20910. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20910
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)e-irr　for 12min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20911. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20911
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)e-irr for 1min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20912. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20912
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-irr for 1min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20913. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20913
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)e-irr for 1min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20914. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20914
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e-irr for 1min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20916. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20916
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)e-irr for 1min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20917. Fe, A202, RTNS-II→Berkley HVEM→20vex, RT（香山）, S', DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20917
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A202. (照射条件)RTNS-II→Berkley HVEM→20vex. (照射温度)RT（香山）. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)e-irr for 1min.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20918. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20918
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20919. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20919
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20920. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20920
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20921. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 60K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20921
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20922. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20922
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20923. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20923
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20924. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20924
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20925. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20925
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20926. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20927. Ni, A695, RTNS-II+HVEM, DF, 40K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695. (照射条件)RTNS-II＋HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)40K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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