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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40643. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, DF, 150K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40643
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40644. SUS, J476, JOYO+RTNS-II, 注記参照, ED., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40644
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)J476. (照射条件)JOYO＋RTNS-II. (照射温度)注記参照. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41351. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

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資料番号: L-41351
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)110. 日付元記載「平成元 6/5」.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41352. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

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資料番号: L-41352
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41353. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41353
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41354. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

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資料番号: L-41354
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)SFT 四角にみえるが.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41355. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41355
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41356. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41356
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41357. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

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資料番号: L-41357
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41358. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41358
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41359. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41359
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41360. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41360
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)110.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41361. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41361
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41362. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41362
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41363. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41363
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↓ 1.5～2°傾けステレオ　.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41364. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41364
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↑.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41365. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41365
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41366. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41366
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41367. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41367
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41368. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41368
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41369. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41369
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)再び　100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41370. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41370
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41371. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41371
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41372. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41372
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41373. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41373
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41420. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41420
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41421. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41421
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41422. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41422
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41423. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41423
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41424. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41424
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41425. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41425
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41426. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41426
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41427. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41427
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41428. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41428
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41429. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41429
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41430. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41430
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41431. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41431
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41432. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41432
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓　増加.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41433. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41433
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41434. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41434
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)↑ 220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41435. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41435
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41436. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41436
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41437. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41437
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41438. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41438
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)↑　111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41439. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41439
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41440. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41440
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41441. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41441
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41442. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41442
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41443. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41443
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41444. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41444
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

(備考)2°傾ける.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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