メインコンテンツへスキップ

アメリカ カリフォルニア州 リバモア

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42831. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42831
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42832. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42832
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)」220.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42833. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42833
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42834. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42834
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42835. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42835
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42836. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42836
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42837. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42837
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)」111.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42838. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42838
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42839. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42839
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42840. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42840
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42841. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42841
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42842. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42842
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42843. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42843
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42844. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42844
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42845. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42845
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42846. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42846
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42847. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42847
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42848. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42848
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42849. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42849
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42850. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42850
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42851. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42851
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42852. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42852
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42853. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42853
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42854. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42854
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42855. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42855
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42856. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42856
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42857. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42857
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42858. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42858
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42859. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42859
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42860. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42860
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42861. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42861
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42862. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42862
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42863. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42863
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42864. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42864
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42865. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42865
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42953. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42953
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42954. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42954
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42955. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42955
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42956. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42956
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42957. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42957
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42958. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42958
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42959. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42959
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42960. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42960
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42961. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42961
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42962. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42962
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42963. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42963
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42964. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42964
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42965. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42965
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42966. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42966
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42967. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42967
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ