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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43190. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43190
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43191. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43191
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43192. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43192
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43193. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43193
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43194. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43194
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43195. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43195
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43196. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43196
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43197. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43197
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43198. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43198
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43199. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43199
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43200. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43200
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43201. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43201
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43202. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43202
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43203. SUS, J451, RTNS-II, 550℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43203
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43204. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43204
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43205. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43205
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43206. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43206
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43207. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43207
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43208. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43208
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43209. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43209
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43210. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43210
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43211. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43211
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43212. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43212
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43213. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43213
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43214. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43214
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43215. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43215
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43216. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43216
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43217. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43217
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43218. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43218
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43219. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43219
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43220. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43220
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43221. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43221
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43222. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43222
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43223. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43223
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43224. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43224
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43225. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43225
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43226. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43226
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43227. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43227
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43228. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43228
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43229. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43229
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43230. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43230
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

(備考)」220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43231. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43231
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43232. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43232
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43233. SUS, J396, RTNS-II, 550℃, S, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43233
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J396. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)550℃. (照射量)S. (条件・倍率等)200K.

(備考)」111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43299. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43299
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43300. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43300
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43301. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43301
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43302. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43302
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43303. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43303
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43304. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43304
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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