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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43590. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 50K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43590
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89. 8. 28」.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43591. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43591
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43592. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43592
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43593. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43593
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43594. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43594
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43595. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43595
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43596. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43596
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43597. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43597
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43598. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43598
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43599. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43599
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43600. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43600
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43601. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43601
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43602. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43602
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44109. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44109
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)1 以下09-15まで.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44110. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44110
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44111. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44111
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44112. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44112
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44113. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44113
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44114. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44114
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44115. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44115
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)1　以上09-15まで.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44116. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44116
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

(備考)2 以下16-20まで.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44117. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44117
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44118. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44118
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44119. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44119
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)2.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44120. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44120
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)2 以上16-20まで.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44121. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44121
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3 以下21-25まで.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44122. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44122
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44123. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44123
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)3.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44124. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44124
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

(備考)3　以上21-25まで.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44125. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44125
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44126. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44126
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44127. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44127
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44128. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44128
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44129. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 200K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44129
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44130. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44130
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44131. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44131
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44132. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44132
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44133. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44133
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44134. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44134
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44135. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44135
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44136. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44136
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44137. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 200K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44137
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44138. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 330K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44138
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44139. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44139
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44140. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44140
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44141. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44141
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓　次第に増.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44142. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44142
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44143. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44143
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44144. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44144
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44145. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44145
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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