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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100373. Ag, R603, RTNS-IIlast, RT, WW, DF., [1995年]2/3.

 アイテム
資料番号: L-100373
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R603. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3＋Δ.

(備考)β.

日付: [1995年]2/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100374. Ag, R603, RTNS-IIlast, RT, WW, BF., [1995年]2/3.

 アイテム
資料番号: L-100374
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R603. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)β.

日付: [1995年]2/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100375. Ag, R603, RTNS-IIlast, RT, WW, DF., [1995年]2/3.

 アイテム
資料番号: L-100375
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R603. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100376. Ag, R603, RTNS-IIlast, RT, WW, DF., [1995年]2/3.

 アイテム
資料番号: L-100376
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R603. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100423. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100423
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Area　A　α. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100424. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100424
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100425. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100425
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100426. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100426
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100427. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100427
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100428. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100429. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100429
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100430. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100430
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100431. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100431
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100432. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100432
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100433. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100433
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100434. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100434
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100435. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100435
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100436. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100436
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Area B　β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100437. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100437
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100438. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100438
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100439. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100439
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100440. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100440
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100441. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100441
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100472. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100472
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　ボツ. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100473. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100473
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100474. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100474
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100475. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100475
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100476. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100476
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100477. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100477
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100478. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100478
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100479. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃., [1995年]2/4.

 アイテム
資料番号: L-100479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃.

(備考)β　ボツ.

日付: [1995年]2/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100480. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100480
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「2/5」.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100481. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100481
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)　＋Δ.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100482. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100482
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100483. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100483
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100484. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100484
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100485. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100485
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100486. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100486
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100487. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, BF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100487
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100488. Ag, R639, RTNS-IIlast, RT, WW, DF, 100K., [1995年]2/5.

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資料番号: L-100488
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R639. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100501. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

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資料番号: L-100501
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「'94 2月5日」（「'95 2月5日」の誤りであると考えられる）.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100502. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100502
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100503. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100503
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100504. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100504
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100505. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100505
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100506. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, BF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100506
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100507. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100507
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100508. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100508
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別視野.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100509. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100509
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100510. Ag, R673, RTNS-IIlast, RT, S, DF, 100K., [19]'94 2月5日.

 アイテム
資料番号: L-100510
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R673. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94 2月5日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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