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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3880. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3880
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3881. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3881
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3882. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3882
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3883. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3883
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3884. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3884
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3885. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3885
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3886. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3886
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3887. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3887
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3888. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3888
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3889. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3889
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3890. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3890
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3891. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 5.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3891
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3892. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3892
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3893. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3893
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3894. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3894
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3895. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3895
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3896. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3896
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3897. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3897
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3898. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3898
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3899. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3899
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3900. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3900
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3901. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3901
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3902. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3902
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3903. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3903
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3904. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3904
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3905. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3905
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3906. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3906
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3907. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3907
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3908. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3908
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3909. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 42K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3909
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3910. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3910
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3911. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3911
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3912. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3912
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3913. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3913
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3914. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3914
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3915. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3915
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3916. Ni, A3, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3916
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3917. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3917
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3918. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3918
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3919. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3919
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3920. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3920
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3921. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3921
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3922. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3922
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3923. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3923
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3924. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3924
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3925. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3925
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3926. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3927. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3928. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3928
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3929. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3929
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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