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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3930. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3930
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3931. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3931
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3932. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3932
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3933. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3933
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3934. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3934
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3935. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3935
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3936. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3936
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3937. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3937
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3938. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3938
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3939. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3939
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3940. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3940
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3941. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3941
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3942. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3942
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3943. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3943
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3944. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3944
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3945. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3945
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3946. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3946
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3947. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3948. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3948
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3949. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3949
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3950. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3950
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3951. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3951
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3952. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3952
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3953. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3953
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3954. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3954
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3955. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3955
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3956. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3956
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3957. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3957
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3958. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3958
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3959. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3959
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3960. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3960
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3961. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3962. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3963. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3964. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3965. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3966. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3967. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3968. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3969. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3970. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3971. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3972. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3972
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3973. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3973
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3974. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3974
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3975. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3975
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3976. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3976
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3977. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3978. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3978
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3979. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3979
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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