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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4559. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4559
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4560. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4560
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4561. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4561
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4562. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4562
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4563. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4563
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4564. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4564
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

(備考)失敗.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4749. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, Weak, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4749
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)Weak. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4750. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4750
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4751. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4751
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4752. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4752
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4753. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4753
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4754. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4754
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4755. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4755
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4756. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4756
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4757. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4757
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4758. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4758
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4759. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4759
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4760. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 210K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4760
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4761. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4761
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4762. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4762
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4763. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4763
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4764. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4764
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4765. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4765
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4766. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4766
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4767. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4767
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4768. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4768
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4769. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4769
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4770. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4770
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4771. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4771
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4772. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4772
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4773. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4773
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4774. Au, AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DE, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4774
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4783. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

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資料番号: O-4783
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4784. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4784
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4785. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4785
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4786. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4786
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4787. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

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資料番号: O-4787
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4788. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4788
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4789. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4789
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4790. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4790
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4791. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4791
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4792. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4792
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4793. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4793
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4794. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4794
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4795. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4795
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4796. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4796
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4797. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4797
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4798. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4798
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4799. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4799
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4800. Au , AT202-1, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4800
範囲と内容

(試料)Au . (試料番号)AT202-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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