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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6377. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6377
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6378. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6378
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6379. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6379
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6380. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6380
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6381. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6381
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6382. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6382
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6383. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6383
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6384. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6384
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6385. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6385
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6386. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6386
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞1.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6387. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6387
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6388. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6388
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6389. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6389
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6390. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6390
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6391. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6391
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6392. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6392
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α　　　＋1.3　黒-2（180）.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6393. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6393
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6394. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6394
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　α　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6395. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6395
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6396. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6396
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β　　　－5.0　赤＋4　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6397. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6397
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6398. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6398
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6399. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6399
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6400. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6400
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6401. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6401
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6402. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6402
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6403. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6403
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6409. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6409
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)2.47x1018n/cm2　　0黒2.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6410. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6410
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6411. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6411
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6412. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6412
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6413. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6413
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6414. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6414
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6415. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6415
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6416. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6416
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6417. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6417
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6418. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6418
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6419. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6419
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6420. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 530K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6420
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)530K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6421. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6421
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6422. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6422
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6423. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6423
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)310K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6424. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6424
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)310K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6425. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6425
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)310K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6426. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6426
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6427. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6427
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6428. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6428
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6429. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6429
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6430. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6430
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6431. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DF, 530K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6431
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)530K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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