メインコンテンツへスキップ

アメリカ カリフォルニア州 リバモア

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6432. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DF, 330K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6432
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6433. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DF, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6433
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6434. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6435. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 530K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)530K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6436. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 260K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)260K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6437. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 530K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)530K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6438. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6439. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 530K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)530K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6440. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 260K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)260K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6441. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 260K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)260K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6442. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6443. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6444. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6445. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6446. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DF, 260K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6447. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6448. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6449. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6450. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6451. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上（-）9　　赤5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6452. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6453. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上（-）9　　0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6454. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6455. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6456. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6458. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, DF, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6458
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6459. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6459
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6460. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6460
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6461. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6461
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6462. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6462
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6463. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6463
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6464. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6464
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6465. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6465
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6466. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6466
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6467. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6467
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6468. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6468
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6469. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6469
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6470. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6470
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6471. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6471
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　　　3.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6472. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6472
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6473. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6473
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)上10,　　00.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6474. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6474
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　　　5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6475. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6475
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6476. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6476
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6477. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6477
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)上17,　　00.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6478. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6478
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)メインの系列に直行のスポット使う.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6479. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6479
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6480. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6480
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6481. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->301K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6481
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞301K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6482. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6482
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ