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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6483. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6483
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6484. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6484
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)Fring.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6485. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6485
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6486. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6486
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6487. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 200K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6487
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6488. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6488
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6489. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6489
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6490. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6490
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6491. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6491
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)Just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6492. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6492
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)Just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6493. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6493
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)1 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6494. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6494
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)2 step undr.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6495. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6495
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6496. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6496
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6497. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6497
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6498. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6498
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)Medi小 1 step over.

(備考)α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6499. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6499
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)Medi小 2 step under.

(備考)α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6500. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6500
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6501. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6501
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6502. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6502
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6503. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6503
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)220反射. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6504. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6504
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6505. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6505
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111反射. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6506. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6506
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6507. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6507
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)析出物のスポットなし.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6508. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6508
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6509. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6509
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6510. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6510
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6511. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6511
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6512. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 201K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6512
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)201K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6513. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 201K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6513
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)201K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6514. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6514
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6515. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6515
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6516. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

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資料番号: O-6516
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6517. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6517
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6518. SUS316, J361松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6518
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J361松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6519. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

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資料番号: O-6519
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Liq. N2 deform.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6520. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6520
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6521. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6521
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6522. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

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資料番号: O-6522
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6523. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 16K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6523
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6524. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6524
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6525. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6525
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6526. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6526
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6527. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6527
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6528. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6528
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6529. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6529
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0 3.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6530. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6530
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6531. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6531
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6532. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6532
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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