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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6533. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6533
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)下5　赤6.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6534. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6534
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤7.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6535. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6535
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤8.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6536. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6536
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤9.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6537. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6537
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下5　赤10.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6538. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6538
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤11.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6539. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6539
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K　. (反射ベクトルg)just.

(備考)下5　赤12.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6540. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6540
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K　. (反射ベクトルg)over.

(備考)下5　赤13.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6541. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6541
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)under.

(備考)下5　赤14.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6542. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6542
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤15.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6543. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6543
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤16.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6544. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6544
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤17.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6545. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6545
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下5　赤18.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6546. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6546
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6547. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6547
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6548. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6548
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6549. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6549
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6550. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 16K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6550
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6551. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 16K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6551
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6552. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 11K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6552
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6553. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 8K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6553
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

(備考)low mag.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6554. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 8K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6554
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6556. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6556
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)electro polishi TEM内焼鈍 RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6557. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6557
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6558. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6558
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6559. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6559
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6560. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6560
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6561. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6561
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6562. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6562
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6563. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, ED, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6563
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6564. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6564
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6565. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6565
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6566. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6566
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6567. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6567
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6568. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6568
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6569. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6569
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6570. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6570
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6571. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6571
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6572. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6572
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6573. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6573
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6574. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6574
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6575. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6575
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6576. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6576
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6577. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6578. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6579. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6580. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6581. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6582. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6583. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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