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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6584. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6585. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6586. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6587. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6588. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6589. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6590. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6591. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6592. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6593. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6594. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7326. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7326
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Fringe. 日付元記載「6/13」.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7327. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7327
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7328. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7328
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7329. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7329
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7330. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7330
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7331. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7331
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7332. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7332
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7333. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7333
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7334. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7334
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7335. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7335
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7336. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7336
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7337. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7337
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7338. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7338
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7339. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7339
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7340. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7340
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7341. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7341
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7342. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7342
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7343. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7343
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7344. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7344
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7345. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7345
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7346. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7346
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7347. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7347
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7348. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7348
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over fine 大3つ.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7349. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7349
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under　fine　小3つ.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7350. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7350
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7351. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7351
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7352. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7352
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7353. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 52K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7353
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7354. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7354
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7355. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 31K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7355
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7356. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7356
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7357. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7357
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7358. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7358
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7359. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7359
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7360. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7360
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7361. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7361
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7364. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7364
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7365. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7365
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7366. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7366
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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