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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7569. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7569
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7570. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7570
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7571. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7571
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7572. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7572
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7573. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7573
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7574. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7574
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7575. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7575
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7576. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7576
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7577. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7578. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7579. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7580. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7581. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7582. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7583. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7584. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7585. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7586. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7587. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7588. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7589. Ni, A793松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A793松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7590. Ni, A26, RTNS=II, 400K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7591. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7592. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7593. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7594. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7595. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7595
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7596. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7596
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7597. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7597
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7598. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7598
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7599. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7599
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7600. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7600
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7601. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7601
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7602. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7602
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7603. Ni, A26, RTNS=II, 400K, 31K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7603
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7604. Ni, A26, RTNS=II, 400K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7604
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7605. Ni, A26, RTNS=II, 400K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7605
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7606. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7606
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7607. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7607
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7608. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7608
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7609. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7609
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7610. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7610
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7611. Ni, A26, RTNS=II, 400K, ED., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7611
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7612. Ni, A23, RTNS=II, 200K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7612
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7613. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7613
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7614. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7614
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7615. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7615
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7616. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7616
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7617. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7617
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7618. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7618
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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