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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8521. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8522. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8523. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8524. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8524
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8525. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8526. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8527. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8528. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8529. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8530. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8531. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8532. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8533. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8534. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8535. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8536. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8537. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8538. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8539. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8540. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8541. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8542. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8543. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8544. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8545. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8546. Ni, 木下, RTNS-II, S, ED., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8547. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8548. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8549. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8550. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8551. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8552. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8553. Ni, 木下, RTNS-II, S, ED., [1985年7月8日.]

 アイテム
資料番号: O-8553
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8554. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF, 80K., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8554
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α. 日付元記載「1985. 7. 9.」.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8555. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8555
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8556. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8556
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8557. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8557
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8558. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8558
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8559. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8559
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　 α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8560. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8560
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考) 　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8561. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8561
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8562. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8562
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8563. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8563
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 α.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8564. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8564
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　 β.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8565. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8565
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考) β.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8566. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8566
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8567. Au, J784松井, RTNS-II, 50℃、20min, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8567
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)50℃、20min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A .

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8568. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8568
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8569. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8569
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8570. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8570
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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