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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8736. Cu, RTNS-II, RT(last), SS., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8736
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8737. Cu, RTNS-II, RT(last), SS, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8737
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8738. Cu, RTNS-II, RT(last), SS., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8738
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8739. Cu, RTNS-II, RT(last), SS., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8739
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8740. Cu, RTNS-II, RT(last), SS., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-8740
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8741. Cu, RTNS-II, RT(last), SS., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8741
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS.

(備考)↓. 日付元記載「7/21」.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8742. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8742
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8743. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8743
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓ stereo.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8744. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8744
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8745. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8745
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8746. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8746
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8747. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8747
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓　任意場所.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8748. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8748
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8749. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8749
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8750. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8750
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8751. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8751
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8752. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8752
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8753. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8753
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓ stereo.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8754. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8754
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8755. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8755
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8756. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8756
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8757. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8757
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓　任意場所.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8758. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8758
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8759. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8759
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8760. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8760
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8761. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8761
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8762. Ni, A967, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年]7/21.

 アイテム
資料番号: L-8762
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A967. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年]7/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8763. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8763
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8764. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8764
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8765. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8765
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8766. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8766
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8767. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8767
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8768. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8768
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8769. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8769
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8770. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8770
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8771. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8771
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8772. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8772
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8773. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8773
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8774. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8774
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8775. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8775
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8776. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, ED, 55cm., [1987年7月21日.]

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資料番号: L-8776
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8777. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8777
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8778. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8778
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8779. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8779
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8780. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8780
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8781. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8781
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8782. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8782
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8783. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8783
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8784. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8784
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-8785. Ni,quench, Af926, RTNS-II, RT, W., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: L-8785
範囲と内容

(試料)Ni,quench. (EM/D3)EM. (試料番号)Af926. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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