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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35579. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35579
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35580. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35580
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35581. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35581
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35582. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35582
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35583. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35583
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35584. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35584
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35585. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35585
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　＋27赤6（340）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35586. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35586
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35587. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35587
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35588. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35588
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35589. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35589
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35590. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35590
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35591. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35591
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35592. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35592
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35593. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35593
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35594. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35594
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35595. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35595
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35596. Ferr, α275 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35596
範囲と内容

(試料)Ferr. (EM/D3)EM. (試料番号)α275 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)きれい　下16（＋）赤（0）何もなし.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35597. Cu-2Si, α276 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35597
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α276 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35598. Cu-2Si, α277 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35598
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α277 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35599. Cu-2Si, α278 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35599
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α278 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35600. Cu-2Si, α279 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35600
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α279 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35601. Cu-2Si, α280 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35601
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α280 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下10（＋）黒8（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35602. Cu-2Si, α281 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35602
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α281 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35603. Cu-2Si, α282 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35603
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α282 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35604. Cu-2Si, α283 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35604
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α283 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35605. Cu-2Si, α284 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35605
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α284 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35606. Cu-2Si, α285 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35606
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α285 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35607. Cu-2Si, α286 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35607
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α286 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)下10（＋）黒8（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35608. Cu-2Si, α287 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35608
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α287 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35609. Cu-2Si, α288 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35609
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α288 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35610. Cu-2Si, α289 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35610
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α289 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35611. Cu-2Si, α290 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35611
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α290 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35612. Cu-2Si, α291 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35612
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α291 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35613. Cu-2Si, α292 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35613
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α292 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35614. Cu-2Si, α293 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35614
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α293 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35615. Cu-2Si, α294 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35615
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α294 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35616. Cu-2Si, α295 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35616
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α295 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35617. Cu-2Si, α296 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35617
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α296 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35618. Cu-2Si, α297 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35618
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α297 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35619. Cu-2Si, α298 Koyama, RTNS-II, RT, SS, BF., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35619
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α298 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35620. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35620
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-20.5　赤3～6　240.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35621. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35621
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35622. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35622
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35623. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35623
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35624. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35624
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35625. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35625
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35626. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35626
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35627. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35627
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　C.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35628. Ni, α100 Koyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35628
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　D.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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