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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9207. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9207
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9208. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9208
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9209. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9209
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9210. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9210
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9211. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9211
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9212. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9212
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9213. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9213
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9214. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9214
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9215. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9215
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9216. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9216
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)以下diff略　near110 蛍光板上で下向きg.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9217. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9217
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9218. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9218
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9219. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9219
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9220. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9220
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9221. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9221
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

(備考)一部に光るもの多数、そこのみ　汚れ？.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9222. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9222
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9223. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9223
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9224. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9224
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9225. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9225
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9226. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9226
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9227. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9227
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)quench.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9228. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9228
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9229. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9229
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9230. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9230
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9231. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9231
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9232. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9232
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9233. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9233
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9234. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9234
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9235. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9235
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9236. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9236
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9237. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9237
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9238. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9238
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9239. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9239
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9240. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9240
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9241. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9241
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9242. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

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資料番号: L-9242
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9243. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

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資料番号: L-9243
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9244. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

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資料番号: L-9244
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9245. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9245
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9246. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

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資料番号: L-9246
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9247. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9247
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9248. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9248
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9249. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9249
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9250. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9250
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9251. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9251
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9252. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9252
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9253. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9253
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9254. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9254
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9255. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9255
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9256. Ag, R683, RTNS-II, RT(last), S, 150K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9256
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)R683. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (条件・倍率等)150K.

(備考)左右に動かす（動いた方向がnの方向）.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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