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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36340. Cu, K098, RTNS-II, 290℃, S-2, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36340
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K098. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36341. Cu, K098, RTNS-II, 290℃, S-2, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36341
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K098. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36342. Cu, K098, RTNS-II, 290℃, S-2, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36342
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K098. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S-2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36343. Cu, K098, RTNS-II, 290℃, S-2, BF, 16K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36343
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K098. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)D　中央がD.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36344. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36344
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　st.1　＋15　赤4（40）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36345. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36345
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36346. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36346
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36347. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36347
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36348. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36348
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36349. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, BF, 16K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36349
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)A　　map.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36350. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, BF, 16K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36350
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)A　　map.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36351. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36351
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　　st.2　＋11　黒2（320）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36352. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36352
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36353. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36353
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36354. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36354
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36355. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36355
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36356. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36356
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　　st.2と同じ傾き　ステレオなし.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36357. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36357
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36358. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36358
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36359. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36359
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36360. Cu, λ273, RTNS-II, RT　木下, WW, 21K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36360
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)λ273. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)WW. (条件・倍率等)21K.

(備考)B　　　map.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36361. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36361
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α　＋19赤0～3（240）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36362. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36362
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36363. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36363
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36364. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36364
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36365. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36365
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36366. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36366
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36367. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36367
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36368. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36368
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36369. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36369
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36370. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36370
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　＋11　赤3（0）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36371. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36371
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36372. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36372
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36373. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36373
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36374. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36374
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36375. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36375
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36376. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36376
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36377. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36377
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36378. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36378
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36379. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36379
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別のgrain.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36380. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36380
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36381. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36381
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36382. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36382
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36383. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36383
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36384. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36384
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36385. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36385
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36386. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36386
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36387. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36387
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36388. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36388
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36389. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36389
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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