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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36705. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36705
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36706. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36706
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36707. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36707
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C　　st.2　-2.5黒9（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36708. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36708
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36709. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36709
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36710. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36710
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36711. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36711
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36712. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36712
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36713. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36713
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36714. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36714
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36715. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36715
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36716. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36716
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36717. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36717
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)map.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36718. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36718
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36719. Cu, K066　蔵元, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36719
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)K066　蔵元. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36720. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36720
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　-2.6黒1.5（240）. 日付元記載「1986. 12. 8　朝.」.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36721. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36721
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α　.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36722. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36722
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α　.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36723. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36723
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36724. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36724
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36725. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36725
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　　-5.5黒10（0）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36726. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36726
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36727. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36727
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　-7.3黒29（100）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36728. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36728
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36729. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36729
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36730. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36730
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36731. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36731
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36732. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36732
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36733. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36733
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)E　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36734. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E　α.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36735. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36735
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β　　-6.5黒20（340）.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36736. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36737. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, DF, 52K., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E　β.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36738. Ni, A088, RTNS-II, 150℃, M, ED., 1986. 12. 8　朝.

 アイテム
資料番号: O-36738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A088. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 12. 8　朝.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36739. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36739
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-15赤9～12（220）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36740. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36741. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36741
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36742. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36742
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36743. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36743
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36744. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36744
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36745. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36745
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　　-9.5赤3～6（340）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36746. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36746
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36747. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36747
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36748. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36748
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36749. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36749
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36750. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36750
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Aの隣.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36751. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36751
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36752. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36752
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36753. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36753
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F　α　　-18赤9.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36754. Ni, λ114木下, RTNS-II, RT, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-36754
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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