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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42920. Au, A254　吉田, RTNS-II, 90℃, S., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42920
範囲と内容

(試料)Au　. (試料番号)A254　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42921. Au, A254　吉田, RTNS-II, 90℃, S., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42921
範囲と内容

(試料)Au　. (試料番号)A254　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42922. Au, A254　吉田, RTNS-II, 90℃, S, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42922
範囲と内容

(試料)Au　. (試料番号)A254　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42923. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42923
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　1％引張り.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42924. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42924
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42925. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42925
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42926. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42926
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42927. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42927
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42928. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42928
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42929. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 100K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42929
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42930. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42930
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42931. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42931
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42932. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42932
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42933. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 5.2K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42933
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.2K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42934. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 5.2K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42934
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.2K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42935. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42935
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42936. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 42K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42936
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42937. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42937
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42938. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 21K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42938
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42939. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 80K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42939
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42940. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 160K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42940
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42941. Ni, B245, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42941
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)B245. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42942. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, BF, 3K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42942
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3K.

(備考)TW 7%変形　42945まで同じgrain.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42943. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42943
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42944. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, BF, 5.3K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42944
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42945. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42945
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42946. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42946
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

(備考)42949まで別のgrain.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42947. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42947
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42948. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42948
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42949. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42949
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42950. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42950
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)42955まで別のgrain.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42951. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42951
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42952. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42952
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42953. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42953
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42954. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, DF, 31K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42954
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42955. Ni, A542 kohyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42955
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A542 kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)100ポール近く.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42976. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42976
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

(備考)TW　7％引張り（78K)汚れひどい.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42977. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42977
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42978. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42978
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42979. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 5.3K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42979
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42980. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 5.3K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42980
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42981. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42981
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42982. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42982
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42983. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42983
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW 2%引張り’78K).

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42984. Ni, A537　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 8K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42984
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A537　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42985. Ni, A537　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42985
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A537　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42986. Ni, A537　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42986
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A537　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42987. Ni, A537　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 5.3K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42987
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A537　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42988. Ni, A537　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42988
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A537　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)約0、0上3.5（0）.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42989. Ni, A537　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 3.7K., [1987年6月11日.]

 アイテム
資料番号: O-42989
範囲と内容

(試料)Ni　. (試料番号)A537　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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