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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9457. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9457
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9458. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9458
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9459. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9459
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)-ｇ.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9460. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9460
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9461. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9461
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9462. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9462
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)＋ｇ’.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9463. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9463
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)＋ｇ’.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9464. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9464
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)＋ｇ’.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9465. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9465
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ’.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9466. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9466
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ’.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9467. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9467
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ’.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9468. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9468
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)＋ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9469. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9469
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)＋ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9470. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9470
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)＋ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9471. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9471
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9472. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9472
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9473. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9473
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ”.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9474. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9474
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9475. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9475
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9476. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9476
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)＋ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9477. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9477
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9478. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9478
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9479. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9479
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9480. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9480
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)-ｇ'''.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9481. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9481
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9482. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9482
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9483. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9483
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9484. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9485. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9486. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9487. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9488. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9489. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9490. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9491. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9492. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9493. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9493
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9494. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9494
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9495. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9495
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9496. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9496
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9497. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9497
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9498. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9498
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9499. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9499
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9500. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9500
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9501. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9501
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9502. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9502
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9503. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9503
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9504. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9504
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ループ特になし.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9505. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9505
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9506. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9506
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-16.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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