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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43366. Cu, RTNS-II, 100K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43366
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43367. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, BF, 3.7K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43367
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)12％引張り（78K)　0,0.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43368. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, BF, 5.3K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43368
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43369. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, BF, 8.0K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43369
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8.0K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43370. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF, 31K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43370
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)上5（-）黒1（180）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43371. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43371
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43372. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43372
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43373. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43373
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43374. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43374
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43375. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF, 37K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43375
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43376. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF, 5.3K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43376
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43377. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, DF, 8.0K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43377
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)8.0K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43378. Ni, A326　kohyama, RTNS-II, RT, M, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43378
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A326　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上7（-）黒2（240）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43379. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43379
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)引張り12.8％.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43380. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 5.3K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43380
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43381. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 8.0K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43381
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8.0K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43382. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, DF, 21K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43382
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K.

(備考)s＝0.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43383. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43383
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43384. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, DF, 31K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43384
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43385. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, DF, 31K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43385
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43386. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43386
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上9（-）0.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43387. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 3.7K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43387
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43388. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 5.3K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43388
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43389. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, BF, 8.0K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43389
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8.0K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43390. Ni, A318　kohyama, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43390
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A318　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下3＋黒2（60）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43391. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43391
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)1％変形.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43392. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43392
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43393. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43393
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43394. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43394
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43395. Ni, B243, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43395
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B243. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上2（-）0.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43396. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43396
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　0.5％引張り.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43397. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43397
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43398. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43398
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43399. Ni, A538　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43399
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A538　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上3-　赤3（300）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43400. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43400
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　7％引張り（78K).

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43401. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43401
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43402. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43402
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43403. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43403
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43404. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43404
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43405. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43405
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43406. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43406
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43407. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, BF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43407
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43408. Ni, A536　kohyama, RTNS-II, RT, W, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43408
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A536　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　上5-赤1（90）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43409. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 16K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43409
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　7％引張り　（78K).

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43410. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 52K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43410
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43411. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43411
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43412. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43412
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)場所ずらす.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43413. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, DF, 42K., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43413
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43414. Ni, A540　kohyama, RTNS-II, RT, WW, ED., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43414
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A540　kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ie10-　黒1（200）.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-43415. Au, A111　last, RTNS-II, RT, SS., [1987年6月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-43415
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A111　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)loop入りの試料の照射　A　α.

日付: [1987年6月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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