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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45090. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45090
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45091. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45091
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45092. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45092
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200↑.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45093. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45093
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111↓.

(備考)45098まであの中心のみIll.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45094. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45094
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45095. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45095
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45096. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45096
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45097. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45097
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45098. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45098
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45099. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45099
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A γ　-1.0黒10.5（140）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45100. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45100
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45101. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45101
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45102. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45102
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45103. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45103
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45104. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45104
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45105. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45105
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　γ　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45106. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45106
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45107. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45107
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)2・1/2法　　Area　C　γ　Just.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45108. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45108
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45109. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45109
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　6.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45110. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45110
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45111. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45111
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　6.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45112. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45112
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45113. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45113
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)やり直し.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45114. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45114
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45115. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45115
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45116. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45116
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞.

(備考)A　δ　＋1.8赤11（220）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45117. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45117
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)B　δ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45118. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45118
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)C　δ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45119. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45119
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45120. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45120
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)βの誓うに戻って　＋15.2黒4（320）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45121. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45121
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45122. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45122
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45123. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45123
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45124. Ag, R671, RTNS-II, RT, S, LM., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45124
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (条件・倍率等)LM.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45125. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)e-irradiation　　A　α　-3.5赤7（160）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45126. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45127. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45128. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45129. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

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資料番号: O-45129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45130. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45131. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45132. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45133. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45134. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45135. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45136. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Bの上　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45137. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Bの上の上　αの上の上.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45138. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45139. Ni, Ae905, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae905. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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