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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45290. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45290
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45291. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45291
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)C.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45292. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45292
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)D.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45293. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45293
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)A　　400℃　25min～25min.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45294. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45294
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45295. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45295
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)C.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45296. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45296
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)D.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45297. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45297
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)A　　450℃.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45298. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45298
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)A.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45299. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45299
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45300. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45300
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45301. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45301
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)C.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45302. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45302
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)C.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45303. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45303
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

(備考)D.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45304. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45304
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)D.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45305. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45305
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)C.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45306. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45306
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45307. Ag, R671, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45307
範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)R671. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)A.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45308. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45308
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Quench　B　　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45309. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45309
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45310. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45310
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45311. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45311
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45312. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45312
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45313. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45313
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　st.1　-25赤12（320）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45314. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45314
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)st.1　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45315. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 42K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45315
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)①　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45316. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45316
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)②　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45317. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45317
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)③　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45318. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45318
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)④　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45319. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45319
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)内部α　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45320. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45320
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)β　st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45321. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45321
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.1　エッジそば.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45322. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45322
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)st.1　エッジそば.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45323. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45323
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45324. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45324
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　st.2.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45325. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45325
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45326. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45326
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45327. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45327
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45328. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45328
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　-24赤18（320）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45329. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 42., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45329
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)1.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45330. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45330
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)2.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45331. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45331
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)3.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45332. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45332
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)4.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45333. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45333
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)β　.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45334. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45334
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45335. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 31K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45335
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)エッジ.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45336. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45336
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45337. Cu, G996, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45337
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)G996. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45338. Ni, RTNS-II, 150℃, DF, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45338
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)e-Irrd　A　α　-4.3　赤0.5（160）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45339. Ni, RTNS-II, 150℃, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45339
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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