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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48100. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48100
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48101. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48101
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48102. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48102
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48103. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48103
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0（5）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48104. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48104
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48105. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48105
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上1.5（-）0（0）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48106. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48106
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48107. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48107
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48108. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48108
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0（4）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48109. Au, RTNS-II吉田, 90℃, M, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48109
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48110. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48110
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)黒12（0）0（0）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48111. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48111
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48112. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48112
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48113. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48113
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48114. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48114
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48115. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48115
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S.

(備考)上1（-）黒6（260）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48116. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48116
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48117. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48117
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48118. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48118
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48119. Au, RTNS-II吉田, 90℃, S, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48119
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II吉田. (照射温度)90℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48120. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48120
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)loop　 D部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48121. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48121
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48122. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 80K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48122
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48123. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48123
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48124. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48124
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation入れた下側＋薄い部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48125. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48125
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation入れた下側＋薄い部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48126. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48126
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)その上側.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48127. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48127
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)その上側.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48128. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48128
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48129. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48129
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分　ループ動いている＋9、赤18-21（100）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48130. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48130
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48131. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 80K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48131
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48132. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48132
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48133. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48133
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48134. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48134
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48135. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48135
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C部分.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48136. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48136
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D部分　β　＋6、赤6-9（220）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48137. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48137
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48138. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48138
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48139. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

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資料番号: O-48139
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48140. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48140
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分　β　＋5.5赤6-9（220）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48141. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48141
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48142. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48142
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C部分　β.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48143. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48143
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)loop　C　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48144. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48144
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48145. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 52K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48145
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48146. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48146
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48147. Ni, Ae902, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48147
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48164. Au, A492, RTNS-II, 200℃, SS., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48164
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下6.5（＋）赤4（60）.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-48165. Au, A492, RTNS-II, 200℃, SS., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: O-48165
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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