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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9707. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9707
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9708. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9708
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9709. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9709
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9710. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9710
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9711. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9711
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9712. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9712
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9713. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9713
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9714. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9714
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9715. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9715
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9716. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9716
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9717. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9717
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9718. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9718
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9719. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9719
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9720. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9720
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9721. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9721
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9722. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9722
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9723. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9723
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9724. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9724
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9725. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9725
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9726. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9726
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9727. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9727
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9728. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9728
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9729. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 30K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9729
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9730. Ni-2Si, R451, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9730
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R451. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9731. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？), 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9731
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9732. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9732
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9733. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9733
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9734. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9734
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9735. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？), ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9735
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9736. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9736
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9737. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9737
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9738. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9738
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9739. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9739
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9740. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9740
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9741. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9741
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9742. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

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資料番号: L-9742
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9743. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9743
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9744. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9744
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9745. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？), ED., [1987年7月26日.]

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資料番号: L-9745
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9746. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？), 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9746
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9747. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9747
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9748. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9748
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9749. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9749
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9750. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9750
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9751. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9751
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9752. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9752
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9753. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？), ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9753
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9754. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9754
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？). (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9755. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9755
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9756. Ag, R638, RTNS-II, RT(last), W(quench？)., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9756
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R638. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W(quench？).

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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