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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49368. Au, RTNS-II, 90℃吉田, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49368
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃吉田. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49369. Au, RTNS-II, 90℃吉田, M., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49369
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃吉田. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49370. Au, RTNS-II, 90℃吉田, M., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49370
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃吉田. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上2.5（-）赤1（160）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49371. Au, RTNS-II, 90℃吉田, M., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49371
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃吉田. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49372. Au, RTNS-II, 90℃吉田, M., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49372
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃吉田. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49373. Au, RTNS-II, 90℃吉田, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49373
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃吉田. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49374. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49374
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上20（-）10（0）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49375. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49375
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49376. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49376
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49377. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49377
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49378. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49378
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49379. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49379
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49380. Au, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49380
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49381. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49381
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下5.5（＋）黒3（160）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49382. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49382
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49383. Au, RTNS-II, 350℃, S., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49383
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49384. Au, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49384
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49385. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49385
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49386. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49386
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49387. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49387
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49388. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49388
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49389. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49389
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49390. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49390
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49391. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49391
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49392. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49392
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49393. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49393
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49394. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49394
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49395. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49395
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49396. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49396
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49397. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49397
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49398. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49398
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49399. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49399
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49400. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49400
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49401. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49401
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49402. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49402
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49403. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49403
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49404. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49404
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49405. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49405
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49406. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49406
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49407. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49407
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49408. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49408
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49409. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49409
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49410. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49410
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49411. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49411
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49412. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49412
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49413. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49413
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49414. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49414
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49415. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49415
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49416. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49416
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49417. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49417
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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