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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51022. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51022
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51023. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51023
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)ス2（＋2赤9＋20）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51024. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 13K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51024
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)A1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51025. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51025
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2.

(備考)A2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51026. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, DF, 66K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51026
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)66K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51027. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, BF, 66K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51027
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)66K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51028. Fe, A287, RTNS-II, 350℃, M2, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51028
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (試料番号)A287. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51134. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×17000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51134
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×17000. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

(備考)①, ループ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51135. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51135
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①, (＋2.5, 赤3＋0).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51139. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×7000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51139
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×7000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)②, (＋3, 赤3＋0), ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51140. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51140
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×13000.

(備考)②, (＋3, 赤3＋0), ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51141. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51141
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×33000.

(備考)②, (＋3, 赤3＋0), ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51143. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51143
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)②, (同上).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51144. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×7000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51144
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×7000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)②, (＋8.5, 赤3＋260), ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51145. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51145
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×13000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)②, (＋8.5, 赤3＋260), ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51146. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51146
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×33000.

(備考)②, ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51147. A719, RTNSII, 450℃, SSS, DF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51147
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)×33000.

(備考)②, ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51148. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×7000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51148
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×7000.

(備考)②, (200反射: これだけ).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51149. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×10000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51149
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×10000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, (＋0.5, 赤3＋40), ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51150. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51150
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×13000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51151. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×17000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51151
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×17000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51152. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51152
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×33000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, ス1.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51153. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51153
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×33000.

(備考)③, ス1, ＋g.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51154. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51154
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×33000.

(備考)③, ス1, -g.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51155. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51155
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)③, (同上).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51156. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51156
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×13000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, (＋7.5, 赤3＋320), ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51157. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×10000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51157
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×10000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51158. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×17000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51158
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×17000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51159. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51159
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×33000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)③, ス2.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51160. A719, RTNSII, 450℃, SSS, DF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51160
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)×33000.

(備考)③, なにもないしょうこ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51161. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51161
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×33000.

(備考)③, なにもないしょうこ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51162. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51162
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×13000. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

(備考)ボイド密度.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51163. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×10000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51163
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×10000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)(200反射: これだけ).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51164. A719, RTNSII, 450℃, SSS, BF, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51164
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×13000.

(備考)③の111めん.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51165. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×17000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51165
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×17000.

(備考)③の111めん.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51166. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51166
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×33000.

(備考)③の111めん.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51167. A719, RTNSII, 450℃, SSS, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51167
範囲と内容

(試料番号)A719. (照射条件)RTNSII. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)③の111めん, (-18.5, 赤30).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51168. A176, RTNSII, 250℃, SSS, BF, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51168
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×13000. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(1.4).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51169. A176, RTNSII, 250℃, SSS., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51169
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS.

(備考)ボツ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51170. A176, RTNSII, 250℃, SSS, BF, ×17000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51170
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×17000. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(1.4).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51171. A176, RTNSII, 250℃, SSS, BF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51171
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×33000. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(1.4).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51172. A176, RTNSII, 250℃, SSS, DF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51172
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)×33000. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(1.4).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51173. A176, RTNSII, 250℃, SSS, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51173
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)(-25, 赤9＋240).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51174. A176, RTNSII, 250℃, SSS, ×13000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51174
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×13000. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51175. A176, RTNSII, 250℃, SSS., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51175
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS.

(備考)ボツ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51176. A176, RTNSII, 250℃, SSS, BF, ×10000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51176
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×10000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

(備考)(-25, 赤9＋0).

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51177. A176, RTNSII, 250℃, SSS, BF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51177
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)×33000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51178. A176, RTNSII, 250℃, SSS, DF, ×25000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51178
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)×25000. (ブラック条件からのずれs)S~＞0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51179. A176, RTNSII, 250℃, SSS, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51179
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)×33000.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-51180. A176, RTNSII, 250℃, SSS, DF, ×33000., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-51180
範囲と内容

(試料番号)A176. (照射条件)RTNSII. (照射温度)250℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)×33000.

(備考)ボイドの大3つ.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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