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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7029. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7029
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7030. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 52K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7030
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7031. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 52K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7031
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7032. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 52K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7032
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7033. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

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資料番号: L-7033
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7034. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

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資料番号: L-7034
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7035. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7035
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7036. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7036
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)C st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7037. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 52K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7037
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)C st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7038. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, ED., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7038
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7039. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7039
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7040. Cu-0.05Sn, G484, RTNS-II, RT(last), Wよこ, DF, 52K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7040
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G484. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)Wよこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7041. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7041
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7042. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7042
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7043. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7043
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7044. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7044
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7045. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7045
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7046. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, ED., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7046
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7047. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7047
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7048. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7048
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7049. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7049
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7050. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7050
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7051. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7051
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7052. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7052
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7053. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, ED., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7053
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7054. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7054
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7055. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7055
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7056. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7056
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7057. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7057
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7058. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7058
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7059. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7059
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7060. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7060
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C 別grain 110poleのそば.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7061. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7061
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)C 別grain 110poleのそば.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7062. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7062
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C 別grain 110poleのそば.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7063. Cu-0.3Si, G384, RTNS-II, RT(last), W よこ, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7063
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G384. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W よこ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C 別grain 110poleのそば.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7064. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7064
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7065. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7065
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7066. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7066
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7067. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7067
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7068. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7068
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7069. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7069
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7070. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7070
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7071. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7071
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7072. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7072
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7073. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7073
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7074. Ni-2Sn, J792, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7074
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)J792. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7075. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7075
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7076. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7076
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7077. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7077
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7078. Ni-2Ge, J762, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

 アイテム
資料番号: L-7078
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)J762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D α.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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