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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13493. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13493
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13494. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13494
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13495. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13495
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13496. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13496
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13497. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13497
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13498. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13498
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13499. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13499
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13500. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13500
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13501. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13501
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13502. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13502
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13503. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13503
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)under.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13504. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13504
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13505. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13505
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13506. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13506
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13507. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13507
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13508. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13508
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13509. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13509
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13510. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13510
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13511. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13511
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13512. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13512
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13513. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13513
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13514. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13514
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13515. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13515
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13516. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13516
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13517. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13517
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13518. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13518
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13519. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13519
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13520. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13520
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13521. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13521
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13522. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13522
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13523. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13523
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13524. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13524
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13525. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13525
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13526. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13526
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13527. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13527
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13528. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13528
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13529. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13529
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13530. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13530
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13531. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13531
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13532. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13532
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13533. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13533
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13534. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13534
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13535. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13535
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13536. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13536
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13537. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13537
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13538. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13538
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13539. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13539
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13540. Cu-0.3Ge, G092, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13540
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G092. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13541. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13541
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13542. Cu-0.3Ni, G242, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13542
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G242. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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