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アメリカ カリフォルニア州 リバモア

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件名：ソース: Ku Peek

24066 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14070. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14070
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14071. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14071
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14072. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14072
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14073. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14073
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14074. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14074
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14075. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14075
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14076. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14076
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14077. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14077
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14078. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14078
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14079. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14079
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14080. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14080
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14081. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14081
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14082. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14082
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14083. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14083
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14084. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14084
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14085. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14085
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14086. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14086
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14087. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14087
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)90までBoundaryから離れる.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14088. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14088
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14089. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14089
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14090. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14090
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14091. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14091
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14092. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14092
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14093. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14093
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14094. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14094
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)D部.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14095. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14095
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14096. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14096
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14097. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14097
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14098. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14098
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14099. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14100. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14101. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14101
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14102. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14102
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14103. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14103
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14104. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14104
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14105. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14105
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14106. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14106
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14107. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14107
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14108. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14108
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14109. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14109
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14110. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14110
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14111. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14111
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14112. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14112
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14113. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

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資料番号: L-14113
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)上と同じgrain.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14114. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14114
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14115. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14115
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14116. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14116
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14117. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14117
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14118. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14118
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14119. Cu-2Si, G449, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14119
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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