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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48305. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, ED, 55cm., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48305
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48306. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48306
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)06～11までBoundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48307. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48307
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48308. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48308
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48309. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48309
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48310. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48310
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48311. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48311
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48312. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48312
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48313. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48313
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48314. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48314
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)以下Boundary.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48315. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48315
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48316. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48316
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)このあたりノートにはきちんとした記録なし.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48317. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48317
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48318. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48318
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48319. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48319
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)dislocation 別Grain.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48320. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48320
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48321. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48321
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48322. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48322
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48323. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48323
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48324. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48324
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下doslocation欠乏領域.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48325. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48325
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48326. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48326
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48327. Ni-2Cu, JMTR, 200℃, ED, 55cm., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48327
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48328. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 150K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48328
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)28～42まで g＝200.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48329. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 150K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48329
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48330. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48330
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48331. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48331
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48332. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48332
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48333. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48333
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48334. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48334
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48335. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48335
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48336. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48336
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48337. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48337
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48338. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48338
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48339. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48339
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48340. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48340
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48341. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 30K., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48341
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)↓　上と同じGrain.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48342. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, 30K., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48342
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48343. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48343
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)43～48まで g＝220.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48344. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48344
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(1.8).

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48345. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48345
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48346. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48346
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48347. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48347
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48348. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48348
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48349. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48349
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

(備考)以下再び g＝200.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48350. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48350
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48351. JHM-2, JMTR controlled, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48351
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48352. JHM-2, JMTR controlled, 200℃, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48352
範囲と内容

(試料)JHM-2. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48353. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48353
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48354. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

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資料番号: L-48354
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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