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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80653. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80653
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80654. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80654
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80655. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80655
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80656. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80656
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80657. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80657
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80658. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80658
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80659. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80659
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80660. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80660
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80661. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80661
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80662. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, ED., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80662
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)110.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80663. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80663
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　　エッジ付近.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80664. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80664
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　　」　　　　　　　　　　　　　　　　　　.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80665. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80665
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒. 日付元記載「1992. 2. 7」.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80666. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80666
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒　16秒？とりなおし.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80667. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80667
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒　16秒？とりなおし.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80668. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80668
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 17 s＝6 8秒？.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80669. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80669
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 18 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80670. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80670
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 18 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80671. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80671
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 18 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80672. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80672
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 19 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80673. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80673
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 19 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80674. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80674
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 20 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80675. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80675
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 20 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80676. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80676
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 21 s＝6 16? 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80677. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80677
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 21 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80678. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80678
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 22 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80679. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 50K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80679
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Area 22 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80680. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80680
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80681. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80681
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80682. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80682
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80683. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80683
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 23 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80684. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80684
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 24 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80685. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80685
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 24 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80686. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80686
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 25 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80687. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80687
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 25 s＝5 8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80688. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80688
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 25 s＝3 2.8秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80689. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80689
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝6 8秒 下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80690. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80690
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝? 2秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80691. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80691
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝6～7 8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80692. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80692
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 26 s＝4 2秒　　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80693. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80693
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝6　8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80694. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80694
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝‽　2.8秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80695. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80695
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝6　8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80696. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80696
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 27 s＝4　2.8秒　上と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80697. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80697
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝6 8秒　下と同じ場所.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80698. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80698
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝?　2.8秒　上と同じ場所　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80699. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80699
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝6～5　8秒　下と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80700. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80700
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 28 s＝3 2.8秒　上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80701. Ag, 100keV Ag+ various fluence, DF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80701
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 29 s＝6 8秒　下と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80702. Ag, 100keV Ag+ various fluence, BF, 100K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80702
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋ various fluence. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 29 s＝? 2.8秒　上と同じ場所.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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