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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8639. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8639
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同一視野.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8640. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8640
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)同一視野　3分.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8641. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8641
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)同一視野　3分.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8642. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8642
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同一視野　.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8643. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8643
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)同一視野　5分.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8644. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8644
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)同一視野　210分.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8645. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8645
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　just.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8646. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8646
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)over 1 step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8647. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8647
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)over 3 step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8648. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8648
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)under 1 step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8649. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8649
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)under 3 step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8650. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8650
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8651. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8651
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8652. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8652
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8653. Fe, A901阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8653
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8654. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8654
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D3　polish　　A. 日付元記載「1985. 7. 10.」.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8655. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8655
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8656. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8656
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8657. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8657
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8658. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8658
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8659. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8659
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8660. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8660
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8661. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8661
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8662. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8662
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8663. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8663
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8664. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8665. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8666. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8666
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8667. Ni, A726木下, RTNS-II, 50℃、～20min, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8667
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)50℃、～20min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8668. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8668
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8669. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8669
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8670. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8670
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8671. Ni, A726木下, RTNS-II, 75℃、～24min, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8671
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)75℃、～24min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8672. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8672
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)絞り2番.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8673. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8673
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8674. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8674
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8675. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8675
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)絞り3番.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8676. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8676
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8677. Ni, A726木下, RTNS-II, 100℃、25min, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8677
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)100℃、25min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8678. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8678
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8679. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8679
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8680. Ni, A726木下, RTNS-II, 150℃、15min, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8680
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃、15min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8681. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8681
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8682. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8682
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8683. Ni, A726木下, RTNS-II, 200℃、30分, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8683
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃、30分. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8684. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8684
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8685. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8685
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8686. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8686
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約2分間隔同一視野.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8687. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8687
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約2分間隔同一視野.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8688. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8688
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約2分間隔同一視野.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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