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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8789. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8789
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8790. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8790
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8791. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8791
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8792. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8792
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8793. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8793
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8794. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8794
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8795. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8795
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8796. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8796
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8797. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8797
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8798. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8798
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8799. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8799
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8800. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8800
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8801. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8801
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8802. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8802
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8803. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8803
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8804. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8804
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8805. Ni, A701木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8805
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8806. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8806
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8807. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8807
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8808. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8808
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8809. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8809
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8810. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8810
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8811. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8811
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8812. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8812
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8813. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8813
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8814. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8814
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8815. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8815
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8816. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8816
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8817. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8817
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8818. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8818
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8819. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8819
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8820. Ni, A701木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8820
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8821. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8821
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8822. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8822
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8823. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8823
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8824. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8824
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8825. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8825
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8826. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8826
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8827. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8827
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8828. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8828
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8829. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

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資料番号: O-8829
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8830. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

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資料番号: O-8830
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8831. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8831
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8832. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

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資料番号: O-8832
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8833. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

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資料番号: O-8833
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8834. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8834
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8835. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

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資料番号: O-8835
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10261. Au, RTNS-II, 150℃∔(8℃cold junction)2.3mV, BF., 1985. 8. 2.

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資料番号: O-10261
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃∔(8℃cold junction)2.3mV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Cryo-traansfer実験（下村）の続き E. 日付元記載「1985. 8. 2」.

日付: 1985. 8. 2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10262. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.

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資料番号: O-10262
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)150℃以上annealingの再開 E.

日付: 1985. 8. 2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10263. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.

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資料番号: O-10263
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 8. 2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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