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北海道札幌市北区北１４条西９丁目

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件名：ソース: Ku Peek

42464 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28807. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28807
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α 　under 2step.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28808. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28808
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28809. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28809
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28810. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28810
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28811. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28811
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)F　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28812. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28812
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28813. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28813
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28814. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28814
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28815. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28815
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28816. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28816
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28817. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28817
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28818. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28818
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28819. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28819
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)voids?.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28820. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 80K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28820
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)voids?.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28821. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28821
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28822. Ni, B171, 200℃, SSS, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28822
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28823. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28823
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28824. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28824
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28825. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28825
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28826. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28826
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28827. Ni, B171, 200℃, SSS, BF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28827
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28828. Ni, B171, 200℃, SSS, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28828
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28829. Ni, B171, 200℃, SSS, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28829
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28830. Ni, B171, 200℃, SSS, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28830
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28831. Ni, B171, 200℃, SSS, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28831
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28832. Ni, B171, 200℃, SSS, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28832
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28833. Ni, B171, 200℃, SSS, DF., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28833
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28834. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28834
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28835. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28835
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28836. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28836
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28837. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28837
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28838. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28838
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28839. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28839
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28840. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28840
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28841. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28841
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28842. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28842
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28843. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28843
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28844. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28844
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28845. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28845
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28846. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28846
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28847. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28847
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28848. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28848
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28849. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28849
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28850. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28850
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28851. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28851
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28852. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28852
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28853. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28853
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28854. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28854
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28855. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28855
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28856. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28856
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K.

(備考)voids.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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